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清洁度检测常见颗粒物分析方法比较

零件表面的残留颗粒物污染物会对零件的使用寿命造成影响,因此在精密制造领域需要对零件表面的清洁度进行分析检测,从而确保产品的可靠性。以下是常见颗粒物分析方法的比较。

颗粒物分析方法

  (1)筛分法。

  优点:简单、直观、设备造价低,常用于大于40um的样品。

  缺点:结果受人为因素和筛孔变形影响较大。

  (2)颗粒物图像分析法。

  优点:简单、直观,可进行形貌分析,适合分布窄(*大和*小粒径的比值小于10:1)的样品。

  缺点:代表性差,分析分布范围宽的样品比较麻烦,无法分析小于1um的样品。

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  (3)沉降法(包括重力沉降和李新沉降)。

  优点:操作渐变,仪器可以连续运行,价格低,准确性和重复性较好,测试范围较广。

  缺点:测试时间较长,操作比较繁琐。

  (4)电阻法。

  优点:操作渐变可测颗粒数,等效概念明确,速度快,准确性好。

  缺点:不适合测量小于0.1um的颗粒样品,对粒度分布宽的样品更换小孔管比较麻烦。

  (5)激光法。优点:操作简便,测试速度快,测试范围广,重复性和准确性好,可进行在线测量和干法测量。缺点:结果受分布模型影响较大,仪器造价较高,分辨力低。

  (6)电子显微镜法。

  优点:适合测试超新颗粒甚至纳米颗粒,分辨力高,可进行形貌和结构分析。

  缺点:样品少,代表性差,测量易受人为因素影响,仪器价格昂贵。

  (7)光阻法。

  优点:测试便捷快速,可测液体或气体中颗粒数,分辨力高。

  缺点:不适用粒径小于1um的样品,进行系统比较讲究,仅适合对尘埃、污染物或已稀释好的**进行测量,对一般粉体用的不多。

  (8)透气法。

  优点:仪器价格低。不用对样品进行分散,可测测性材料粉体。

  缺点:只能得到平均粒度值,不能测粒度分布;不能测小于5um细粉。

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